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StrainScope Stepper拼接式测量应力仪

StrainScope Stepper拼接式测量应力仪

StrainScope Stepper适用于大口径样品的应力双折射的测量,采用StrainScope测量头与准直光源,可以更准确地测量样品的应力分布,并通过拼接测量超大尺寸的样品。

对较大口径样品的高分辨应力测量,通常需要较长的测量时间。一般地,材料的应力双折射对温度比较敏感, 要求测试时环境温度变化<0.1度/小时。因而大口径样品的应力测量中的最大障碍,是环境温度的变化对测量结果的影响,特别是高精度测量对环境的要求更为苛刻。

StrainScope Stepper可以实现对大口径样品的快速测量,从而减小了对实验室温度的控制程度,可以大大减小测量成本。

该系列为定制产品。

应用特点

高精度光学材料的应力双折射测量

可通过自动拼接测量大口径光学窗口

测量速度快,空间分辨率高

可以测量浸没于折射率液中的大尺寸样品

定制案例

主机口径:Ø115 mm

单口径测量时间:10 sec

空间分辨率:0.08 mm

被测样品尺寸:500 mm x 600 mm

子孔径测量次数:7 x 7 (max.)

拼接测量时间:< 15 min


常规属性

设备形式:光轴水平设计

光源:单LED准直光源,波长625±10 nm

最大负荷:500 kg(包括样品台)

探测器像素:1200 x 1000 pixels

通光口径:89 mm x 74 mm ,单次测量时间<10 sec 可自动拼接测试

运动行程:水平方向:600 mm,垂直方向:500 mm

样品最大尺寸:长:600 mm;宽:500 mm;厚:200 mm

样品形状:表面平行且抛光, 直接透过率>50% @610...640nm


系统性能

双折射测量范围:0-100 nm

空腔基线稳定性(最大值的标准差):≤0.05 nm

重复性:CaF2标样重复12次测量最大值的标准差 ≤0.05 nm

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