StrainScope Stepper适用于大口径样品的应力双折射的测量，采用StrainScope测量头与准直光源，可以更准确地测量样品的应力分布，并通过拼接测量超大尺寸的样品。
对较大口径样品的高分辨应力测量，通常需要较长的测量时间。一般地，材料的应力双折射对温度比较敏感， 要求测试时环境温度变化<0.1度/小时。因而大口径样品的应力测量中的最大障碍，是环境温度的变化对测量结果的影响,特别是高精度测量对环境的要求更为苛刻。
StrainScope Stepper可以实现对大口径样品的快速测量，从而减小了对实验室温度的控制程度，可以大大减小测量成本。
该系列为定制产品。
高精度光学材料的应力双折射测量
可通过自动拼接测量大口径光学窗口
测量速度快，空间分辨率高
可以测量浸没于折射率液中的大尺寸样品
主机口径：Ø115 mm
单口径测量时间：10 sec
被测样品尺寸：500 mm x 600 mm
子孔径测量次数：7 x 7 （max.)
拼接测量时间：< 15 min
设备形式：光轴水平设计
光源：单LED准直光源，波长625±10 nm
最大负荷：500 kg（包括样品台）
探测器像素：1200 x 1000 pixels
通光口径：89 mm x 74 mm ，单次测量时间<10 sec 可自动拼接测试
运动行程：水平方向：600 mm，垂直方向：500 mm
样品最大尺寸：长：600 mm；宽：500 mm；厚：200 mm
样品形状：表面平行且抛光, 直接透过率>50% @610...640nm
双折射测量范围：0-100 nm
空腔基线稳定性（最大值的标准差）：≤0.05 nm
重复性：CaF2标样重复12次测量最大值的标准差 ≤0.05 nm
